一种红外探测器真空度测量装置
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摘要

本实用新型涉及一种红外探测器真空度测量装置,包括陶瓷管壳、红外芯片、吸气剂、光学窗和金属上盖,所述光学窗通过焊料片固定在所述金属上盖顶部且所述金属上盖底部通过焊料片固定在所述陶瓷管壳顶部以形成密闭腔体,所述陶瓷管壳顶部连接有位于所述密闭腔体内的金属焊盘,所述密闭腔体内还设置有微型真空计、吸气剂和与所述金属焊盘相连的所述红外芯片,所述陶瓷管壳底部设置有与所述金属焊盘连接的引脚;本实用新型的优点是:在红外探测器腔体内部设置与陶瓷管壳上的电极焊盘相连通的微型真空计,通过将陶瓷管壳上的电极焊盘与测量微型真空计讯号的仪器相连即可测得红外探测器腔体内的真空度,无需破坏红外探测器以进行检测,并且检测高效、准确。

基本信息
专利标题 :
一种红外探测器真空度测量装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921301530.4
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-08-12
授权号 :
CN210136024U
授权日 :
2020-03-10
发明人 :
林明芳陈俊宇郭信良
申请人 :
江苏鼎茂半导体有限公司
申请人地址 :
江苏省苏州市工业园区娄葑东富路8号东景工业坊13号厂房
代理机构 :
北京轻创知识产权代理有限公司
代理人 :
吴东勤
优先权 :
CN201921301530.4
主分类号 :
G01L21/00
IPC分类号 :
G01L21/00  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01L
测量力、应力、转矩、功、机械功率、机械效率或流体压力
G01L21/00
真空计
法律状态
2020-03-10 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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