一种光学平面抛磨尺寸制程用自动监测装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种光学平面抛磨尺寸制程用自动监测装置，涉及光学加工技术领域，包括编程控制器、Y轴电动位移平台、连接杆、激光投射探头、打磨平台、研磨抛光机转速控制器，连接杆滑动套合在Y轴电动位移平台上，连接杆的左侧设有激光投射探头，激光投射探头和连接杆均通过电线和编程控制器相连；研磨抛光机转速控制器通过电线和打磨平台内的磨盘相连。本实用新型通过在打磨平台上增加能够实时自动监控磨盘内研磨状态的激光投射探头，通过将光学玻璃元件被打磨的厚度转化为连接杆上的激光投射探头在Y轴电动位移平台下降的高度，以保证产品尺寸或者合适的磨抛余量，减少人工观察和检测研磨数据的误差，提高了成品的研磨效果和质量。
基本信息
专利标题 ：
一种光学平面抛磨尺寸制程用自动监测装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921312209.6
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-08-14
授权号 ：
CN210335597U
授权日 ：
2020-04-17
发明人 ：
何锋李梦丹何志辉张邦武詹杭海杜林
申请人 ：
腾景科技股份有限公司
申请人地址 ：
福建省福州市马尾科技园区茶山路1号1楼A栋五层、B栋三层(自贸试验区内)
代理机构 ：
福州盈创知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
李钢
优先权 ：
CN201921312209.6
主分类号 ：
B24B49/12
IPC分类号 ：
B24B49/12 B24B55/00
IPC结构图谱
B
B部——作业；运输
B24
磨削；抛光
B24B
用于磨削或抛光的机床、装置或工艺（用电蚀入B23H；磨料或有关喷射入B24C；电解浸蚀或电解抛光入C25F3/00；磨具磨损表面的修理或调节；磨削，抛光剂或研磨剂的进给
B24B49/00
用于控制磨具或工件进给运动的测量或校准装置；指示或测量装置的布置，如用于指示磨削加工开始的
B24B49/12
使用光学装置
法律状态
2020-04-17 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
