微波器件测试用辅助保护装置
授权
摘要

本实用新型涉及微波器件测试工具技术领域,具体涉及微波器件测试用辅助保护装置。包括固定底板、下夹持座和上夹持机构,所述下夹持座一体式设置于固定底板顶部,在下夹持座的顶部设有第一器件凹槽和紧固盲孔,第一器件凹槽的两侧设有端子槽,在上夹持机构的底部设有第二器件凹槽,第二器件凹槽的两侧设有压块,在上夹持机构内设有竖直贯穿上夹持机构的紧固通孔,在上夹持机构的底面除去第二器件凹槽、压块和紧固通孔以外的部位设有第一缓冲垫层,在第二器件凹槽的槽底设有第二缓冲垫层,上夹持机构盖合在下夹持座上。本实用新型可以使微波器件在测试过程中与微带线始终保持压紧状态,保证微波器件测试的稳定性、准确性和无损性。

基本信息
专利标题 :
微波器件测试用辅助保护装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921374392.2
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-08-22
授权号 :
CN210465579U
授权日 :
2020-05-05
发明人 :
杨林蔡挺夫陈远红刘建国
申请人 :
成都中亚讯飞电子有限公司
申请人地址 :
四川省成都市青羊区青羊工业集中发展区西区“青羊区青年(大学生)创业园”E2栋04号
代理机构 :
成都顶峰专利事务所(普通合伙)
代理人 :
王霞
优先权 :
CN201921374392.2
主分类号 :
G01R31/00
IPC分类号 :
G01R31/00  G01R1/04  G01R1/02  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置;电故障的探测装置;以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置;在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66;线路传输系统的测试入H04B3/46)
法律状态
2020-05-05 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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