一种电子元器件生产检测用平台
授权
摘要

本实用新型公开了一种电子元器件生产检测用平台,包括基板,基板顶端的后部设有一组第一调节机构,且一组第一调节机构之间设有照明机构,基板的两侧皆设有立板,且立板的外侧皆设有一组楔形板与两组承载板,楔形板与承载板的表面设于放置盘,基板底部前端两侧设有检测工具存放机构,防护壳的内部设有第二调节机构,契合口内部从上向下依次设有盖板与工作台。本实用新型具有对工作位置的上方进行照明并且照明高度壳调节的作用,并且具有对电子元件进行分开摆放,便于工作,提高工作效率,另外具有防止本实用新型闲置时工作台会落上灰尘影响正常使用,同时减轻工作人员的工作量。

基本信息
专利标题 :
一种电子元器件生产检测用平台
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921397335.6
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-08-26
授权号 :
CN210487825U
授权日 :
2020-05-08
发明人 :
韦东
申请人 :
韦东
申请人地址 :
陕西省西安市新城区长乐中路35号
代理机构 :
成都明涛智创专利代理有限公司
代理人 :
徐玲
优先权 :
CN201921397335.6
主分类号 :
G01R1/04
IPC分类号 :
G01R1/04  F21V33/00  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/04
外壳;支承构件;端子装置
法律状态
2020-05-08 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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