测试用电路板
授权
摘要
本申请公开了一种测试用电路板，包括内部信号层，内部信号层设有阻抗测试线，同时测试用电路板设有裸露出阻抗测试线至少部分的测试孔，以供阻抗测试设备的测试探针伸入测试孔而与裸露的阻抗测试线电连接，进而进行阻抗测试。本申请所提供的测试用电路板能够减少电路板第一次阻抗确认的时间，提高竞争力。
基本信息
专利标题 ：
测试用电路板
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921408547.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-08-27
授权号 ：
CN211043572U
授权日 ：
2020-07-17
发明人 ：
李智韩雪川崔荣
申请人 ：
深南电路股份有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市南山区侨城东路99号
代理机构 ：
深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
李庆波
优先权 ：
CN201921408547.X
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R27/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2020-07-17 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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