一种电子材料导电性能测试装置
授权
摘要

本实用新型公开了一种电子材料导电性能测试装置,具体涉及测试设备领域,包括底座,所述底座的顶部设置有立柱,所述立柱的数量为两个,两个所述立柱的外侧均设置有活动块,所述立柱与活动块活动连接,所述活动块的数量为两个,两个所述活动块之间设置有横板,所述横板的两端均与活动块固定连接。本实用新型通过设有推动板与固定杆,与现有技术相比,通过推动板的运动带动了正极片以及负极片向一侧运动,让正极片以及负极片的端面均与推动板的竖直共面设置,可以将导电材料夹持住,可以适应不同大小的导电材料,便于使用,并让正极片以及负极片同时跟随着推动板移动,无需再次调整其位置,便于测试导电性能。

基本信息
专利标题 :
一种电子材料导电性能测试装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921601261.3
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-09-25
授权号 :
CN210835104U
授权日 :
2020-06-23
发明人 :
秦勇陈悦
申请人 :
上海西浦医药科技有限公司
申请人地址 :
上海市松江区曹农路255号5号楼
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN201921601261.3
主分类号 :
G01R31/00
IPC分类号 :
G01R31/00  G01R27/02  G01R1/04  G01R1/02  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置;电故障的探测装置;以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置;在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66;线路传输系统的测试入H04B3/46)
法律状态
2020-06-23 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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