一种消除比较器工艺误差的改善电路
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摘要
本实用新型公开了一种消除比较器工艺误差的改善电路,芯片内部设有polyfuse,初始状态下polyfuse正常连接至VCC,M1管栅级被上拉致VCC,M1导通,此时Vout=R2/(R2+R3)*VCC,当需要改变电压值时,触发M2导通,polyfuse被短路至VSS,polyfuse被短路电路烧断,M1管栅极被电阻R4下拉至VSS,M1管关闭,此时Vout=VCC;通过一段polyfuse可使电阻分压值设定为VCC或R2/(R2+R3)*VCC,十段polyfuse可以实现1024级电压调整。本实用新型与现有技术相比的优点在于:polyfuse在芯片内部占用面积很小;ployfuse只需要输入clk信号控制大电流通过被熔断就可以实现Verf的改变;10段ployfuse就能实现1024级的电压,精确度能够满足绝大多数的产品的精密调整要求;生产成本降低。
基本信息
专利标题 :
一种消除比较器工艺误差的改善电路
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921629154.1
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-09-27
授权号 :
CN210670024U
授权日 :
2020-06-02
发明人 :
温彦衫谢徐豪吴建霖
申请人 :
芯鸿发(厦门)电子科技有限公司;温彦衫;谢徐豪;吴建霖
申请人地址 :
福建省厦门市中国(福建)自由贸易试验区厦门片区港中路1702号402单元
代理机构 :
北京盛凡智荣知识产权代理有限公司
代理人 :
赵芳蕾
优先权 :
CN201921629154.1
主分类号 :
H03K19/0185
IPC分类号 :
H03K19/0185 H03K5/24
法律状态
2020-06-02 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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