一种消除缺陷定位误差的方法
公开
摘要
本申请提供的一种消除缺陷定位误差的方法，获取缺陷检测状态下薄膜上标定位置M和标定位置N之间的第一距离，及缺陷剔除状态下薄膜上标定位置M和标定位置N之间的第二距离，第一距离不等于第二距离；标定位置M和标定位置N标记在薄膜上用于记录薄膜的长度；在缺陷剔除状态下，根据第一距离、第二距离和修正次数确定薄膜的修正系数；在缺陷剔除状态下，根据薄膜的待移动距离确定薄膜上缺陷X的位置，薄膜的待移动距离是通过缺陷剔除状态下薄膜的当前位置、缺陷检测状态下缺陷X的位置、修正系数和薄膜的标定起点位置确定的。本申请消除薄膜在复卷机(即缺陷剔除状态)下拉伸等原因导致的缺陷定位误差，提高复卷机停机的准确性。
基本信息
专利标题 ：
一种消除缺陷定位误差的方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114604678A
申请号 ：
CN202210235729.1
公开（公告）日 ：
2022-06-10
申请日 ：
2022-03-11
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
唐永
申请人 ：
凌云光技术股份有限公司
申请人地址 ：
北京市海淀区翠湖南环路13号院7号楼7层701室
代理机构 ：
北京弘权知识产权代理有限公司
代理人 ：
逯长明
优先权 ：
CN202210235729.1
主分类号 ：
B65H43/00
IPC分类号 ：
B65H43/00 B65H18/08 B65H16/00
IPC结构图谱
B
B部——作业；运输
B65
输送；包装；贮存；搬运薄的或细丝状材料
B65H
搬运薄的或细丝状材料，如薄板、条材、缆索
B65H43/00
控制、检验或安全装置的应用，例如有检测可变量的元件的自动装置
法律状态
2022-06-10 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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