一种光电子器件频率响应的测试装置
授权
摘要
本实用新型涉及光电子器件技术领域，且公开了一种光电子器件频率响应的测试装置，该装置通过电机转动，电机带动齿轮转动，齿轮在转动时带动齿条向右运动，而齿条是固定安装在平台的内部，齿条带动平台向右运动，平台带动放置板与左固定块向右运动，放置板与左固定块带动光电子器件向右运动，再通过滑块与滑槽的配合使用，光电子器件将进入右固定块的固定槽内部，该装置，通过气缸向下运动，气缸带动弹簧套筒向下运动，弹簧套筒带动金属探头向下运动，金属探头带动金属片向下运动，金属片与光电子器件接触，再通过弹簧底部连接的导线与频率响应检测器相互配合使用，从而达到能自动检测。
基本信息
专利标题 ：
一种光电子器件频率响应的测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921694321.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-10-11
授权号 ：
CN211014377U
授权日 ：
2020-07-14
发明人 ：
孙同勋
申请人 ：
武汉德威汉克光电科技有限公司
申请人地址 ：
湖北省武汉市东湖开发区华师园路5号武汉华中师大科技园发展有限公司办公楼（2栋）3层307室
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN201921694321.0
主分类号 ：
G01R1/04
IPC分类号 ：
G01R1/04 G01R31/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/04
外壳；支承构件；端子装置
法律状态
2020-07-14 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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