用于芯片频率响应的测试治具
授权
摘要
本实用新型涉及一种用于芯片频率响应的测试治具，其特征在于：包括上、下夹层和设在上、下夹层之间的控温器件，所述上夹层的上表面靠近第一边缘设有用于放置测试样品的凹陷槽，所述上夹层上从第二边缘向中心部开设有沉孔，所述沉孔内设置有温度传感器。本实用新型结构设计简单、合理，可以进行不同温度的恒温测试和对测试样品全面分析。
基本信息
专利标题 ：
用于芯片频率响应的测试治具
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920646015.3
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-05-08
授权号 ：
CN210109154U
授权日 ：
2020-02-21
发明人 ：
杨重英苏辉薛正群吴林福生
申请人 ：
福建中科光芯光电科技有限公司
申请人地址 ：
福建省泉州市石狮市高新区创新创业中心11#厂房1层
代理机构 ：
福州元创专利商标代理有限公司
代理人 ：
林捷
优先权 ：
CN201920646015.3
主分类号 ：
G01R1/04
IPC分类号 ：
G01R1/04 G01R31/28
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/04
外壳；支承构件；端子装置
法律状态
2020-02-21 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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