一种可控硅测试仪
授权
摘要
一种可控硅测试仪，包括电源电路和可控硅测试电路，其构成为：LED灯和LED灯的限流电阻R2串联连接后和限流电阻R1并联连接，该并联连接的一端连接被测元件的A极，被测元件的K极接地，被测元件的G极串接电阻R3后和所述并联连接的另一端同接5V电源，该5V电源由所述电源电路供电。本实用新型可直接在线准确测试元件的好坏，免除了拆装元件的过程，在很大程度上减轻了工作量。而且本实用新型还集成了调试整流设备反馈和给定专用的模拟量生成器，包括了0‑5V和4‑20mA连续可调的信号生成器，还提供了CPU主板模拟运行的5V标准直流电压，解决了整流设备检修和调试中的多种困难。
基本信息
专利标题 ：
一种可控硅测试仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921716855.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-10-14
授权号 ：
CN211014532U
授权日 ：
2020-07-14
发明人 ：
董兵天何飞元董怡彤许鹏
申请人 ：
甘肃有色冶金职业技术学院
申请人地址 ：
甘肃省金昌市金川区天津路101号
代理机构 ：
甘肃省知识产权事务中心
代理人 ：
马英
优先权 ：
CN201921716855.9
主分类号 ：
G01R31/26
IPC分类号 ：
G01R31/26
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2020-07-14 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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