一种测试可控硅参数的晶闸管测试仪
授权
摘要

本实用新型公开了一种测试可控硅参数的晶闸管测试仪,涉及到晶闸管测试领域,包括壳体和测试仪主体,壳体的内部设有横向设置的安装板,安装板的下端通过减震机构与壳体的下内侧壁连接,测试仪主体的下端通过卡接机构与安装板连接,壳体的左右两侧均开设有开口,两个开口的内部均通过弹簧合页转动连接有挡板,两个挡板相反的两侧均开设有两个对称分布的接线口,壳体的前侧为开通设置,且壳体的前侧通过两组铰链转动连接有两个箱门,两个箱门通过箱体扣件相互连接。本实用新型便于人们对晶闸管测试仪进行携带,且在携带时能够对测试仪主体进行缓冲减震,避免对测试仪主体造成损坏,还便于对测试仪主体进行拆装,便于人们使用。

基本信息
专利标题 :
一种测试可控硅参数的晶闸管测试仪
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021683220.6
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-08-13
授权号 :
CN212905261U
授权日 :
2021-04-06
发明人 :
张文军刘敬梅潘海菊
申请人 :
湖北襄整整流器有限公司
申请人地址 :
湖北省襄阳市高新区追日路9号
代理机构 :
上海精晟知识产权代理有限公司
代理人 :
刘宁
优先权 :
CN202021683220.6
主分类号 :
G01R31/26
IPC分类号 :
G01R31/26  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2021-04-06 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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