一种寻址扫描快速荧光寿命显微成像系统
授权
摘要
本实用新型提供了一种寻址扫描快速荧光寿命显微成像系统，所述系统包括：照明光源、激光器、图像生成单元、数据采集卡、荧光信号产生单元、荧光寿命采集单元以及控制终端。本实用新型通过目标区域的像素坐标输出数字信号和三路同步信号，通过对声光偏转器加载数字信号对应的声波频率，可以使声光偏转器将光束快速偏转到样品指定位置，实现快速灵活的寻址扫描成像；通过三路同步信号控制时间相关单光子计数采集卡同步对荧光寿命数据进行保存，并利用目标区域及其外接矩形的像素坐标对荧光寿命图像进行校正，从而实现任意形状目标区域的寻址扫描快速荧光寿命成像。
基本信息
专利标题 ：
一种寻址扫描快速荧光寿命显微成像系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921722247.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-10-14
授权号 ：
CN210834671U
授权日 ：
2020-06-23
发明人 ：
刘雄波林丹樱屈军乐于斌牛敬敬
申请人 ：
深圳大学
申请人地址 ：
广东省深圳市南山区南海大道3688号
代理机构 ：
深圳市君胜知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
王永文
优先权 ：
CN201921722247.9
主分类号 ：
G01N21/64
IPC分类号 ：
G01N21/64
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/62
所测试的材料在其中被激发，因之引起材料发光或入射光的波长发生变化的系统
G01N21/63
光学激发的
G01N21/64
荧光；磷光
法律状态
2020-06-23 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
