一种频域发光寿命成像系统
授权
摘要
本发明公开了一种频域发光寿命成像系统，包括样品台、激发光源、第一透镜组、斩波器、滤光片、第二透镜组、成像器件、计算机和信号发生装置。适用于微秒及以上发光寿命的频域寿命成像系统。该种成像手段使用斩波器作为主要的频域发光调控器件，测量的波段可以从可见区延伸到近红外区(300–1700nm)，相比传统频域寿命成像系统，不仅提供了近红外区的光谱范围(1000–1700nm)，而且相比前者使用的高分辨探测器，高速相机以及精密时序设备，极大降低了寿命成像的成本，具有可拓展性和易用性，在微秒以上的发光寿命成像领域具有极大的应用前景。
基本信息
专利标题 ：
一种频域发光寿命成像系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN112161946A
申请号 ：
CN202010886576.8
公开（公告）日 ：
2021-01-01
申请日 ：
2020-08-28
授权号 ：
CN112161946B
授权日 ：
2022-04-15
发明人 ：
李富友冯玮顾昱飏孔梦涯
申请人 ：
复旦大学
申请人地址 ：
上海市杨浦区邯郸路220号
代理机构 ：
上海精晟知识产权代理有限公司
代理人 ：
吴金姿
优先权 ：
CN202010886576.8
主分类号 ：
G01N21/33
IPC分类号 ：
G01N21/33 G01N21/359 G01N21/64 G01N21/01 A61B5/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/25
颜色；光谱性质，即比较材料对两个或多个不同波长或波段的光的影响
G01N21/31
测试材料在特定元素或分子的特征波长下的相对效应，例如原子吸收光谱术
G01N21/33
利用紫外光
法律状态
2022-04-15 ：
授权
2021-01-19 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 21/33
申请日 : 20200828
申请日 : 20200828
2021-01-01 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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