一种多环组合式磁探仪校准装置
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摘要

本实用新型涉及一种多环组合式磁探仪校准装置,其包括长圆管,长圆管的外侧圆柱面上均匀间隔的开设有线槽,每个线槽中均绕制相同匝数的线圈且各线圈通过出线端子串联,任意相邻的两个线圈构成一个亥姆霍兹线圈,长圆管内设有探杆支架,探杆支架可使探杆沿长圆管的中心轴线置入长圆管内。有益效果是:在长圆管上均匀间隔开设多个线槽并绕制线圈后串联形成多组亥姆霍兹线圈,在长圆管内实现一定范围的轴向磁场均匀且幅值一致,探杆通过探杆支架沿长圆管中心轴线放入长圆管内,探杆上的两探头先是物理同轴,然后其又处于相同的磁场内,可方便的调校其磁轴一致,使磁探仪的精度被调校的较好,调校操作更简单且效率更高。

基本信息
专利标题 :
一种多环组合式磁探仪校准装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921807799.X
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-10-25
授权号 :
CN210572816U
授权日 :
2020-05-19
发明人 :
王超影吴全传
申请人 :
武汉市中邦博尔高新科技有限公司
申请人地址 :
湖北省武汉市东西湖区五环大道31号(8)
代理机构 :
武汉谦源知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
尹伟
优先权 :
CN201921807799.X
主分类号 :
G01V13/00
IPC分类号 :
G01V13/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01V
地球物理;重力测量;物质或物体的探测;示踪物
G01V13/00
包括在G01V1/00至G01V11/00各组中的仪器或设备的制造、校准、清洁或修理
法律状态
2020-05-19 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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