一种检测准确率高的电子元件检测设备
授权
摘要
本实用新型公开了一种检测准确率高的电子元件检测设备，包括固定座、检测仪、置物装置、调节装置和限位装置，所述固定座右半部的顶部安装有检测仪，所述固定座的左半部的中心挖设有置物槽，所述固定座左半部的上方设有与置物槽连接的置物装置，所述固定座左半部的顶部设有四组以置物装置为中心呈环形阵列分布的调节装置，所述调节装置的底部与固定座的顶部固定焊接，所述调节装置的顶部设有适配的限位装置，所述限位装置的内周设有相机，所述相机与检测仪电性连接。该检测准确率高的电子元件检测设备，能够根据不同尺寸的电子元件本体进行调节，同时能够适应不同型号的相机。
基本信息
专利标题 ：
一种检测准确率高的电子元件检测设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921925523.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-11-11
授权号 ：
CN211741095U
授权日 ：
2020-10-23
发明人 ：
谭广有
申请人 ：
大连麻利那电子有限公司
申请人地址 ：
辽宁省大连市经济技术开发区昌邦路11号-1
代理机构 ：
沈阳利泰专利商标代理有限公司
代理人 ：
史进斗
优先权 ：
CN201921925523.1
主分类号 ：
G01N21/88
IPC分类号 ：
G01N21/88
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
法律状态
2020-10-23 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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