一种片状试样的电子背散射衍射制样辅助装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种片状试样的电子背散射衍射制样辅助装置，包括压块和定位圆块；所述压块是由螺柱和围绕螺柱下端外壁均布的多个支撑块组成的锤状结构；所述定位圆块中间形成Ⅰ号连接螺孔，圆周壁上形成多个Ⅱ号连接螺孔；螺柱与Ⅰ号连接螺孔螺纹连接；压块放入试样筒内，底面与片状试样上表面接触，支撑块外套设镶嵌块。本实用新型提供了一种片状试样的电子背散射衍射制样辅助装置，实现了片状试样沿垂直于厚向的EBSD制样，适用性强，制样效率较高，花样质量较好。
基本信息
专利标题 ：
一种片状试样的电子背散射衍射制样辅助装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921955140.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-11-13
授权号 ：
CN211086152U
授权日 ：
2020-07-24
发明人 ：
李昂张毅温禹王淯
申请人 ：
核工业理化工程研究院
申请人地址 ：
天津市河东区津塘路168号
代理机构 ：
天津市宗欣专利商标代理有限公司
代理人 ：
马倩
优先权 ：
CN201921955140.9
主分类号 ：
G01N23/2005
IPC分类号 ：
G01N23/2005 G01N23/20025
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/20
利用材料辐射的衍射，例如，用于测试晶体结构；利用材料辐射的散射，例如测试非晶材料；利用材料辐射的反射
G01N23/20008
分析仪零件结构，例如其特征在于X射线源、检测器或光学系统；其配件；样品制备
G01N23/2005
粉末状样品制备
法律状态
2020-07-24 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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