高辐射场强试验系统
授权
摘要
本公开提供一种高辐射场强试验系统，涉及电磁兼容性测试技术领域。该试系统包括：信号发生源、功率放大器、耦合器、发射天线、接收天线、以及设置在发射天线与接收天线之间的搅拌器，信号发生源与功率放大器连接，功率放大器与耦合器连接，耦合器与发射天线连接，接收天线与信号发生源连接。本公开能够验证被测设备及其互联电缆束在受到宽频带、高场强、长时间的场强照射下是否满足及其设计技术参数；且能通过高强辐射场考核确保被测设备在雷达、无线电、电视台和其他地面、水面、空中射频发射机辐射的高场强信号环境下能够保持正常功能。
基本信息
专利标题 ：
高辐射场强试验系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921977034.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-11-15
授权号 ：
CN211653013U
授权日 ：
2020-10-09
发明人 ：
刘凯郝娜娜何相勇熊秀范晓宇
申请人 ：
西安爱邦电磁技术有限责任公司
申请人地址 ：
陕西省西安市高新区丈八西路35号东一楼
代理机构 ：
北京挺立专利事务所(普通合伙)
代理人 ：
韩畅
优先权 ：
CN201921977034.0
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2020-10-09 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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