一种检测液晶玻璃表面缺陷的双光路成像模组
授权
摘要
本实用新型公开了一种检测液晶玻璃表面缺陷的双光路成像模组，包括设置在产品上方的第一照射模块和第二照射模块，所述第一照射模块的反射光路上设有反射模块，所述反射模块的反射光路上设有检测模块。利用反射模块反射，使得光路能在较小的空间内实现复杂的光学系统，光学模组整体结构紧凑、方便调节、便于安装；利用一个线扫相机，完成亮场、暗场同时成像，降低硬件成本，并且不需要复杂的控制对位程序，将亮场、暗场图像在空间位置上精准对位，降低控制技术调节复杂度。
基本信息
专利标题 ：
一种检测液晶玻璃表面缺陷的双光路成像模组
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922018099.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-11-20
授权号 ：
CN211122588U
授权日 ：
2020-07-28
发明人 ：
戴锐张强勇刘锦云
申请人 ：
南京颖图电子技术有限公司
申请人地址 ：
江苏省南京市江宁区利源南路55号C8-102室
代理机构 ：
南京乐羽知行专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
孙承尧
优先权 ：
CN201922018099.9
主分类号 ：
G01N21/95
IPC分类号 ：
G01N21/95 G01N21/01 G01M11/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
G01N21/95
特征在于待测物品的材料或形状
法律状态
2020-07-28 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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