一种芯片检测分拣统计系统
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摘要
一种芯片检测分拣统计系统，其特征在于，包括传送装置，检测装置，分拣装置，显示装置，电机控制系统，控制终端，云平台和手机app；所述电机控制系统与传送装置，检测装置，分拣装置，手机app和云平台之间通信，所述检测装置和显示装置之间通信，所述控制终端与电机控制系统之间通信。本实用新型提供的芯片检测分拣统计系统，采用机器视觉系统，替代了现有人工检测的方法，能够提高生产的灵活性和自动化程度；可以适用于危险工作环境和人工视觉难以满足的工作场合；同时，在大批量重复性工业生产过程中，大大提高了生产的效率和自动化程度。
基本信息
专利标题 ：
一种芯片检测分拣统计系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922038766.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-11-22
授权号 ：
CN211839079U
授权日 ：
2020-11-03
发明人 ：
余柏林徐俊佳
申请人 ：
深圳信息职业技术学院
申请人地址 ：
广东省深圳市龙岗区龙翔大道2188号
代理机构 ：
深圳市兴科达知识产权代理有限公司
代理人 ：
徐民奎
优先权 ：
CN201922038766.X
主分类号 ：
B07C5/00
IPC分类号 ：
B07C5/00 B07C5/02 B07C5/36
相关图片
IPC结构图谱
B
B部——作业；运输
B07
将固体从固体中分离；分选
B07C
邮件分拣；单件物品的分选，或适于一件一件地分选的散装材料的分选，如拣选
B07C5/00
按照物品或材料的特性或特点分选，例如用检测或测量这些特性或特点的装置进行控制；用手动装置，例如开关，来分选
法律状态
2020-11-03 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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