建筑物墙体位移刻度测量装置
授权
摘要
本实用新型涉及一种建筑物墙体位移刻度测量装置，其特征为它包括测量底板、测量面板和固定螺栓；在测量底板的前端面上设有一测量凹槽，在测量凹槽上设有测量用的刻度表；对应测量凹槽在测量面板的后端面上设有连接凹槽；测量面板通过连接凹槽贴合在测量底板的测量凹槽上；在测量底板一端设有底板安装孔，在测量底板另一端对应的在测量面板上设有面板安装孔，在底板安装孔与面板安装孔中分别设有固定螺栓。本实用新型具有方便大型建筑物的墙体位移测量的优点。
基本信息
专利标题 ：
建筑物墙体位移刻度测量装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922059741.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-11-26
授权号 ：
CN210570413U
授权日 ：
2020-05-19
发明人 ：
张力张卫姚彩华姚德朋
申请人 ：
江阴香江光电仪器有限公司
申请人地址 ：
江苏省无锡市江阴市澄江街道新华工业园新园路16号
代理机构 ：
无锡大扬专利事务所(普通合伙)
代理人 ：
何军
优先权 ：
CN201922059741.8
主分类号 ：
G01B5/14
IPC分类号 ：
G01B5/14 G01B5/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B5/00
以采用机械方法为特征的计量设备
G01B5/14
用于计量相隔的物体或孔的间距或间隙
法律状态
2020-05-19 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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