二极管反向恢复时间的测试装置
授权
摘要
本实用新型公开了二极管反向恢复时间的测试装置，包括供电模块、电压调节模块、信号发生器、待测二极管底座、限流电阻、取样电阻、分支电阻一、分支电阻二、比较器一、比较器二、计数器和待测二极管，所述供电模块与电压调节模块相连，所述电压调节模块内设有晶闸管可控整流电路，所述电压调节模块的输出端与信号发生器输入端连接，所述待测二极管底座包括正极端插孔和负极端插孔，所述待测二极管可拆卸设于正极端插孔和负极端插孔内。本实用新型属于二极管检测技术领域，具体是提供了一种克服传统技术中专业的二极管测试仪器成本高的缺点，成本低且方便操作的二极管反向恢复时间的测试装置。
基本信息
专利标题 ：
二极管反向恢复时间的测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922106228.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-11-29
授权号 ：
CN211206698U
授权日 ：
2020-08-07
发明人 ：
金明星
申请人 ：
穆棱市北一半导体科技有限公司
申请人地址 ：
黑龙江省牡丹江市穆棱市经济开发区创业大厦301-303室
代理机构 ：
北京盛凡智荣知识产权代理有限公司
代理人 ：
郑丰平
优先权 ：
CN201922106228.X
主分类号 ：
G01R31/26
IPC分类号 ：
G01R31/26
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2020-08-07 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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