发光二极管测试装置
专利权的终止
摘要

本实用新型公开了一种发光二极管(Light Emitting Diode,LED)测试装置,其包含有至少一个以上的LED插座、至少一个以上的光传感器、光纤与控制器。其中LED插座用以插接一LED;光传感器在LED关闭时感测一第一亮度,在LED开启时感测一第二亮度;光纤用以接收该第一亮度和该第二亮度,并将该第一亮度与该第二亮度传递给光传感器;控制器电性连接至LED插座与光传感器,用以控制LED的开启与关闭,并且控制光传感器接收感测的亮度。本实用新型的LED测试装置,利用传感器代替人工测试,提高测试精准度与测试涵盖率。

基本信息
专利标题 :
发光二极管测试装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200720128891.4
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2007-08-22
授权号 :
CN201141906Y
授权日 :
2008-10-29
发明人 :
张天超刘方栋金志仁宋建福陈玄同刘文涵
申请人 :
英业达股份有限公司
申请人地址 :
台湾省台北市
代理机构 :
北京律诚同业知识产权代理有限公司
代理人 :
梁挥
优先权 :
CN200720128891.4
主分类号 :
G01R31/26
IPC分类号 :
G01R31/26  G01J1/42  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2017-09-26 :
专利权的终止
专利权有效期届满号牌文件类型代码 : 1611
号牌文件序号 : 101749618675
IPC(主分类) : G01R 31/26
专利号 : ZL2007201288914
申请日 : 20070822
授权公告日 : 20081029
终止日期 : 无
2008-10-29 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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