一种UV发光二极管测试装置
授权
摘要
本实用新型涉及电子器件测试技术领域，且公开了一种UV发光二极管测试装置，包括底座，所述底座顶部的左侧固定连接有控制箱，所述控制箱的正面由上至下依次固定连接有电流显示屏、电压显示屏和控制面板。该UV发光二极管测试装置，通过设置固定圆盘的右侧固定连接有多个基座，基座的内部固定连接有UV发光二极管，再通过设置测光仪和取光设备，能够有效收集光信号，从而实现了在线实时检测UV发光二极管试件的光、色及电等性能参数，避免因应力条件发生改变以及反复安装、拆卸UV发光二极管试件而引入的测试误差，达到了测试精度高的效果，从而有效的解决了UV发光二极管测试过程中反复、拆卸UV发光二极管试件而影响测试误差的问题。
基本信息
专利标题 ：
一种UV发光二极管测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922066729.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-11-26
授权号 ：
CN211554221U
授权日 ：
2020-09-22
发明人 ：
陈蕤森
申请人 ：
南通无极光电科技有限公司
申请人地址 ：
江苏省南通市开发区复兴路31号
代理机构 ：
北京盛凡智荣知识产权代理有限公司
代理人 ：
李洪波
优先权 ：
CN201922066729.X
主分类号 ：
G01R31/26
IPC分类号 ：
G01R31/26 G01R1/04 G01J1/42
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2020-09-22 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
