本发明涉及二极管领域，具体为技术为一种发光二极管测试设备及测试方法，包括检测板，所述检测板的上端开有滑槽，所述滑槽的内部活动插接有滑块，所述滑槽的后端中部开有限位滑槽，且限位滑槽的内部活动插接有滑动块，所述滑动块的中部开有螺孔，所述螺孔的内部通过螺纹插接有螺杆，所述螺杆的右端固定连接有传动电机，所述滑块的左端前后侧开有第一半圆槽，所述第一半圆槽的中部开有收纳槽，所述收纳槽的内部活动插接有挤压块，所述挤压块的左端固定连接有触头弹性片。通过设备的整体结构，能够快速的检测多个二极管，使得二极管的检测更加方便且快速；通过设置放置板的结构，能够使得二极管的检测更加稳定。