一种拼接型贴片发光二极管的测试装置及其测试方法
公开
摘要
本发明提供一种拼接型贴片发光二极管的测试装置，包括与拼接型贴片发光二极管相匹配的夹持组件以及用于检测的测试组件，测试组件包括与对拼接型贴片发光二极管的各个引脚相对应匹配的多个匹配插件以及用于拼接型贴片发光二极管的识别相机；还包括多个固定组件，一个固定组件上滑动设置有两个相反驱动的匹配插件，以实现对拼接型贴片发光二极管的固定与对应测试。本发明能够通过夹持组件实现对拼接型贴片发光二极管的夹持与所处位置检测，并根据距离传感器的数据信号，实现对拼接型贴片发光二极管的所处角度进行调整，使得拼接型贴片发光二极管的所处角度与测试组件的测试方向相匹配，增加了测试组件与拼接型贴片发光二极管的匹配精准度。
基本信息
专利标题 ：
一种拼接型贴片发光二极管的测试装置及其测试方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114355140A
申请号 ：
CN202111680352.2
公开（公告）日 ：
2022-04-15
申请日 ：
2021-12-30
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
石海莲李晓辉曹锡文王红
申请人 ：
天津天星电子有限公司
申请人地址 ：
天津市滨海新区经济技术开发区
代理机构 ：
北京沁优知识产权代理有限公司
代理人 ：
郭衍飞
优先权 ：
CN202111680352.2
主分类号 ：
G01R31/26
IPC分类号 ：
G01R31/26
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2022-04-15 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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