一种发光二极管测试装置

专利权的终止

摘要

一种发光二极管测试装置，包括检测电路板，其特征在于，该测试装置还包括传导发光二极管光信号的光导纤维和用于接收发光二极管光信号的光敏三极管，所述光敏三极管安装于所述检测电路板上。本实用新型的利用光导纤维将发光二极管发出的光传递给光敏三极管，其通过检测电路检测光敏三极管的电信号，判断其发光二极管的好坏，其准确性和效率都大大地得到了提高。

基本信息

专利标题：

一种发光二极管测试装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN200820147063.X

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2008-08-27

授权号：

CN201293821Y

授权日：

2009-08-19

发明人：

李好平田东伟

申请人：

比亚迪股份有限公司

申请人地址：

518119广东省深圳市龙岗区坪山镇横坪公路3001号

代理机构：

代理人：

优先权：

CN200820147063.X

主分类号：

G01R31/26

IPC分类号：

G01R31/26 G01J1/00 G01M11/00

IPC结构图谱

G部——物理

G01

测量；测试

G01R

测量电变量；测量磁变量

G01R31/26

•单个半导体器件的测试

法律状态

2016-10-19 ：

专利权的终止

未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101683118820
IPC(主分类) : G01R 31/26
专利号 : ZL200820147063X
申请日 : 20080827
授权公告日 : 20090819
终止日期 : 20150827

2009-08-19 ：

授权

注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。

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