一种发光二极管测试用拆装装置
授权
摘要
本实用新型提供了一种发光二极管测试用拆装装置，属于发光二极管测试技术领域。该发光二极管测试用拆装装置包括连接结构和检测结构。所述连接结构包括固定块、第一螺纹杆、滑动件和导电柱，所述固定块的内部开设有空腔，所述空腔的一侧开设有滑槽，所述第一螺纹杆的一端转动连接在所述空腔的内部，所述第一螺纹杆的另一端固定有第二螺纹杆，所述滑动件螺纹连接在所述第一螺纹杆和所述第二螺纹杆上，所述导电柱固定在所述滑动件的内部，所述导电柱的顶面固定有导电夹片，所述检测结构包括万用表，所述万用表通过连接件与所述导电柱连接。本实用新型在进行测试时可以更加简单方便，有利于提高测试的效率。
基本信息
专利标题 ：
一种发光二极管测试用拆装装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202122797704.4
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-11-15
授权号 ：
CN216248221U
授权日 ：
2022-04-08
发明人 ：
李晓辉曹锡文石海莲王红田艳秋
申请人 ：
天津天星电子有限公司
申请人地址 ：
天津市滨海新区经济技术开发区
代理机构 ：
北京沁优知识产权代理有限公司
代理人 ：
周庆路
优先权 ：
CN202122797704.4
主分类号 ：
G01R31/26
IPC分类号 ：
G01R31/26 G01R1/04 G01R15/12
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2022-04-08 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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