整流二极管测试装置
授权
摘要
本实用新型的目的是提供一种整流二极管测试装置，将整流二极管夹持在安装板左侧的上下两个夹持头之间，设置有两个安装板，推拉电机将侧板左推，上下两个密封板分别将高温箱和低温箱右侧的开口盖住密封，这样上下两个安装板左侧的整流二极管分别位于高温箱和低温箱内，这样便可模拟高低温环境，并且安装板可通过左推气缸进行左推调整位置，设置冲击气缸对高温箱和低温箱内的整流二极管进行冲击测试，设置抽风机在打开高温箱和低温箱时对开口处进行抽风，整个装置可以很好的模拟高低温和冲击状况，操作方便适用于生产检测中。
基本信息
专利标题 ：
整流二极管测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920530434.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-04-18
授权号 ：
CN210129017U
授权日 ：
2020-03-06
发明人 ：
高建明侯立磊王秀庭潘淑松历余良
申请人 ：
南京创锐半导体有限公司
申请人地址 ：
江苏省南京市江北新区葛塘街道中鑫路692号
代理机构 ：
南京正联知识产权代理有限公司
代理人 ：
郭俊玲
优先权 ：
CN201920530434.0
主分类号 ：
G01R31/26
IPC分类号 ：
G01R31/26
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2020-03-06 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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