一种二极管测试座
授权
摘要
本实用新型公开了一种二极管测试座，包括基座，基座的下表面固定连接有支撑腿，多个支撑腿在基座的下表面呈矩形阵列分布，基座的上表面分别开设有第一安装孔和第二安装孔，第一安装孔和第二安装孔均在基座的上表面呈矩形阵列分布，基座的背面设置有测试装置，且测试装置包括有连接块，连接块的正面与基座的背面固定连接。该二极管测试座，通过设置基座的背面设置有测试装置，且测试装置包括有连接块，连接块的正面与基座的背面固定连接，从而具有质检人员在需要对不同尺寸的二极管本体进行测试时，通过使用本装置来有效提高质检人员对二极管本体测试效率的特点。
基本信息
专利标题 ：
一种二极管测试座
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921781054.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-10-23
授权号 ：
CN210954236U
授权日 ：
2020-07-07
发明人 ：
江俊
申请人 ：
常州顺烨电子有限公司
申请人地址 ：
江苏省常州市新北区河海西路195号
代理机构 ：
南通毅帆知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
韩冬
优先权 ：
CN201921781054.0
主分类号 ：
G01R31/26
IPC分类号 ：
G01R31/26 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2020-07-07 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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