一种二极管新型测试片
授权
摘要

本实用新型公开了一种二极管新型测试片,包括第一测试片、第二测试片、第三测试片、第四测试片和放置台,第一测试片的端部设有第一测试片头部测试块,第一测试片上设有第一螺丝锁孔、测试片定位孔和第二螺丝锁孔,第二测试片的端部设有第二测试片头部测试块,整组测试片采用第一测试片和第二测试片,第三测试片和第四测试片组合,组合间的间隙可调,满足不同宽度的被测引脚需求;测试片组合凹槽垂直角被磨损后,还可以通过磨修与组合间隙调整来延长测试片的使用次数,节约成本,测试片通过定位孔与双螺孔设计搭配,定位准确、安装快速,调节方便、并且不会短接。

基本信息
专利标题 :
一种二极管新型测试片
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921033357.4
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-07-03
授权号 :
CN210294339U
授权日 :
2020-04-10
发明人 :
邱和平
申请人 :
阳信金鑫电子有限公司
申请人地址 :
山东省滨州市阳信县小桑经贸园区
代理机构 :
北京华仁联合知识产权代理有限公司
代理人 :
王倩倩
优先权 :
CN201921033357.4
主分类号 :
G01R1/04
IPC分类号 :
G01R1/04  G01R31/26  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/04
外壳;支承构件;端子装置
法律状态
2020-04-10 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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