本实用新型系提供一种用于二极管的测试结构，包括支架，支架上固定有z轴导轨，z轴导轨上滑动连接有z轴滑块；z轴滑块的一侧固定有上支板，上支板中设有导孔，支架的一侧固定有下支板，上支板位于下支板的正上方，下支板上固定有导柱，导柱外套设有弹簧，弹簧位于上支板和下支板之间，导柱穿过导孔设置；上支板和z轴滑块的顶部固定有测试平台，测试平台上固定有两测试片，测试平台中还设有连通的吹气孔和导气通道，吹气孔位于两块测试片之间。本实用新型在测试过程中能够有效缓冲二极管所受的压力，从而避免二极管因剧烈碰撞挤压而损坏，在测试完成后，通过吹气孔向二极管底部吹气，能够有效简化二极管的取出操作。