一种二极管电性测试结构
专利权人的姓名或者名称、地址的变更
摘要

本实用新型提供一种二极管电性测试结构,包括测试限位板、安装板A、安装板B、第一测试片组、第二测试片组;第一测试片组包括测试片A、测试片B,测试片A和测试片B相邻设置;第二测试片组包括测试片C、测试片D,测试片C和测试片D相邻设置;安装板A安装在测试限位板的一侧形成第一测试片组的收纳空间,安装板B安装在测试限位板的另一侧形成第二测试片组的收纳空间,第一测试片组与测试限位板弹性连接并且设置在第一测试片组的收纳空间内,第二测试片组与测试限位板弹性连接并且设置在第二测试片组的收纳空间内;测试限位板的上表面设置有测试座。本实用新型的有益效果是:实现迅速、稳定的测试动作。

基本信息
专利标题 :
一种二极管电性测试结构
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020932060.8
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-05-28
授权号 :
CN212364486U
授权日 :
2021-01-15
发明人 :
覃荣俊
申请人 :
中之半导体科技(东莞)有限公司
申请人地址 :
广东省东莞市寮步镇寮步百业路76号1栋103室
代理机构 :
东莞市永桥知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
何新华
优先权 :
CN202020932060.8
主分类号 :
G01R31/26
IPC分类号 :
G01R31/26  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2021-07-20 :
专利权人的姓名或者名称、地址的变更
IPC(主分类) : G01R 31/26
变更事项 : 专利权人
变更前 : 中之半导体科技(东莞)有限公司
变更后 : 先之科半导体科技(东莞)有限公司
变更事项 : 地址
变更前 : 523430 广东省东莞市寮步镇寮步百业路76号1栋103室
变更后 : 523430 广东省东莞市寮步镇寮步百业路76号1栋103室
2021-01-15 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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