二极管电性能测试用装置
授权
摘要
本实用新型涉及一种二极管电性能测试用装置，包括：底座、设于底座上的呈对称分布的一对测试座，以及与一对测试座一一对应设置的一对测试块；其中一对测试座上还分别设有测试连接柱；一对测试块还分别连接有适于带动测试块运动的杠杆组件；杠杆组件适于带动测试块压向测试座以夹紧位于测试块与测试座之间的二极管的引线；以及在一对测试座之间还形成有适于嵌入二极管的本体的缺槽。本实用新型可以提高二极管测试过程中的引线与测试座之间接触的可靠性。
基本信息
专利标题 ：
二极管电性能测试用装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202123091892.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-12-10
授权号 ：
CN216718589U
授权日 ：
2022-06-10
发明人 ：
徐琤
申请人 ：
常州银河世纪微电子股份有限公司
申请人地址 ：
江苏省常州市新北区长江北路19号
代理机构 ：
常州市科谊专利代理事务所
代理人 ：
言倩玉
优先权 ：
CN202123091892.5
主分类号 ：
G01R31/26
IPC分类号 ：
G01R31/26 G01R1/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2022-06-10 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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