一种二极管电性能检验测试装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种二极管电性能检验测试装置，属于半导体封装测试设备领域。包括线路板，线路板上设有输入接线端、输出接线端和轴向产品测试柱，所述输入接线端连接测试夹，输出接线端连接测试仪，所述轴向产品测试柱和输出接线端采用电连接，轴向产品测试柱外围套设有保护座，所述保护座通过螺钉固定在线路板上；本实用新型可以同时测试轴向二极管产品、贴片产品和TO产品，提升了测试效率和准确性。
基本信息
专利标题 ：
一种二极管电性能检验测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920981486.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-06-27
授权号 ：
CN210442471U
授权日 ：
2020-05-01
发明人 ：
汪良恩田长亮
申请人 ：
安徽安美半导体有限公司
申请人地址 ：
安徽省池州市经济技术开发区富安电子信息产业园10号厂房
代理机构 ：
上海华诚知识产权代理有限公司
代理人 ：
陈国俊
优先权 ：
CN201920981486.X
主分类号 ：
G01R31/26
IPC分类号 ：
G01R31/26
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2020-05-01 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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