一种适用于激光二极管偏振特性的测试系统
授权
摘要
本实用新型提供了一种适用于激光二极管偏振特性的测试系统，其能够无损地精确测试TO‑can封装的激光二极管的偏振比，具有操作简单、成本低廉等优点。激光二极管插接安装于测试插座内，测试插座与电流驱动器相连；激光二极管前侧设置有准直透镜，准直透镜通过中空的转接套筒安装于五维调整架组件上；准直透镜前侧设置有泰勒格兰棱镜，泰勒格兰棱镜安装于二维调整架上；泰勒格兰棱镜前侧设置有功率计，激光光束可从激光二极管透过准直透镜、泰勒格兰棱镜后，入射到功率计内。
基本信息
专利标题 ：
一种适用于激光二极管偏振特性的测试系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202121521889.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-07-06
授权号 ：
CN216285567U
授权日 ：
2022-04-12
发明人 ：
翟苏亚倪晓飞
申请人 ：
无锡厦泰生物科技有限公司
申请人地址 ：
江苏省无锡市新吴区菱湖大道200号中国传感网国际创新园D2-201
代理机构 ：
无锡盛阳专利商标事务所(普通合伙)
代理人 ：
顾吉云
优先权 ：
CN202121521889.X
主分类号 ：
G01R31/26
IPC分类号 ：
G01R31/26 G01R1/04 G01M11/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2022-04-12 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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