本发明提供一种半导体激光器偏振测试方法及测试系统，主要解决现有偏振度的测试方法存在可靠性较低、测试成本较高以及无法确定准直光路是否与偏振分束棱镜处于有效夹角内的问题。该测试系统包括六维调节台、准直透镜、偏振分束棱镜、刻度调节板、功率探测装置、第一滑轨和第二滑轨；半导体激光器设置在安装在六维调节台上；准直透镜、偏振分束棱镜、功率探测装置和刻度调节板依次设置在半导体激光器的出射光路上；准直透镜对半导体激光器快轴慢轴进行光束准直；偏振分束棱镜设置在第一滑轨上；功率探测装置用于获取通过准直透镜和偏振分束棱镜激光束的光功率；刻度调节板设置在第二滑轨上。