一种激光二极管老化测试装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种激光二极管老化测试装置，具体涉及二极管老化测试技术领域，包括壳体，所述壳体包括上壳和下壳，所述上壳和下壳内部分别设置有第一气流腔和第二气流腔，所述上壳内侧壁以及下壳内侧壁分别贯穿设有第一气流孔以及第二气流孔，所述第一气流孔以及第二气流孔分别与第一气流腔以及第二气流腔相连通。本实用新型通过设有第一气流腔、第二气流腔等结构，在检测时，在第一风机和第二风机的作用下，带动壳体内腔中的气流流动，以降低激光二极管周围环境的温度，消除冷却水带来的安全隐患，进而增加该装置的安全性能，有利于增加该装置的使用寿命，同时，可以加快壳体内部热量的散失，为检测环境提供安全保障。
基本信息
专利标题 ：
一种激光二极管老化测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921153885.3
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-07-22
授权号 ：
CN210465600U
授权日 ：
2020-05-05
发明人 ：
唐雄华宋薇薇
申请人 ：
赫顶（天津）工业技术有限公司
申请人地址 ：
天津市西青区张家窝镇天安数码城二区1-5-506-1
代理机构 ：
天津市尚仪知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
高正方
优先权 ：
CN201921153885.3
主分类号 ：
G01R31/26
IPC分类号 ：
G01R31/26 G01R1/04 H05K7/20
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2020-05-05 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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