一种激光二极管用LD-TO老化设备
授权
摘要
本实用新型公开了一种激光二极管用LD‑TO老化设备，包括底座和检测箱，所述检测箱固定在底座的上端表面，且检测箱的上端盖置固定有盖板，所述检测箱的两侧中部内壁上均开设有固定槽，固定槽内的上端两端均开设有接电槽，所述接电槽为两个，且接电槽的上下两端均设置有接电片，所述接电片通过弹簧固定在接电槽的内壁上，所述底座上端表面两侧的检测箱内部均固定有电热丝。本实用新型通过在检测箱内部两侧表面设置有两个固定槽，并在检测箱的中部竖向固定有隔板，能够在检测箱的内部固定两个激光二极管，在底部设置电热丝模拟高温工作环境，可以同时对两个激光二极管进行老化试验，从而检测出其抗老化性能。
基本信息
专利标题 ：
一种激光二极管用LD-TO老化设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921746329.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-10-17
授权号 ：
CN211014535U
授权日 ：
2020-07-14
发明人 ：
黄智伟
申请人 ：
江西骏川半导体设备有限公司
申请人地址 ：
江西省抚州市临川区科技园路666号临川高新科技产业园27栋
代理机构 ：
北京盛凡智荣知识产权代理有限公司
代理人 ：
商祥淑
优先权 ：
CN201921746329.7
主分类号 ：
G01R31/26
IPC分类号 ：
G01R31/26 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2020-07-14 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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