一种二极管测试电路
授权
摘要
本申请属于集成电路测试领域，具体提供了一种二极管测试电路。其中，该二极管测试电路包括：测试支路与保护支路；其中，所述测试支路与所述保护支路连接；其中，所述测试支路用于实现待测二极管的动态参数测试；所述保护支路用于在所述待测二极管故障时，保护所述测试支路。基于本实用新型提供的技术方案，在对二极管进行动态参数测试过程中，当被测二极管发生故障时，可以实现对测试支路中的开关器件的保护，进而提高了该二极管测试电路的安全性。
基本信息
专利标题 ：
一种二极管测试电路
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202122993891.3
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-12-01
授权号 ：
CN216595382U
授权日 ：
2022-05-24
发明人 ：
陈跃俊
申请人 ：
北京华峰测控技术股份有限公司
申请人地址 ：
北京市丰台区海鹰路1号2号楼7层
代理机构 ：
北京华夏正合知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
韩登营
优先权 ：
CN202122993891.3
主分类号 ：
G01R31/26
IPC分类号 ：
G01R31/26
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2022-05-24 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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