一种用于肖特基二极管的正向压降测试电路
授权
摘要

本实用新型属于二极管测试技术领域,尤其涉及一种用于肖特基二极管的正向压降测试电路。包括电源、恒流源模块、采样处理电路和显示电路,电源两端连接有待测管,恒流源模块串接在电源与待测管之间,用于给待测管提供指定电流,采样处理电路连接在待测管两端,用于在指定电流值下采集待测管的电压值并处理,显示电路连接采样处理电路,用于显示采样处理电路处理后的信号。本实用新型用于解决正向压降参数测试不便的问题。通过恒流源模块给待测管提供指定电流,在指定电流下通过采样处理电路采集待测管的电压并进行数据处理,然后通过显示电路显示具体数值,整体结构简单,方便易实行,体积小,便于携带。

基本信息
专利标题 :
一种用于肖特基二极管的正向压降测试电路
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021746922.4
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-08-19
授权号 :
CN212932855U
授权日 :
2021-04-09
发明人 :
陈广宏
申请人 :
扬州晶新微电子有限公司
申请人地址 :
江苏省扬州市鸿大路29号
代理机构 :
北京轻创知识产权代理有限公司
代理人 :
黄启兵
优先权 :
CN202021746922.4
主分类号 :
G01R31/26
IPC分类号 :
G01R31/26  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2021-04-09 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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