二极管反向恢复时间测试装置
授权
摘要
本实用新型涉及电路检测技术领域，具体公开了一种二极管反向恢复时间测试装置，包括方波信号发生电路，所述方波信号发生电路输出端连接被测二极管DX正极，所述被测二极管DX负极连接负载电阻RL一端和示波器信号输入端，所述方波信号发生电路接地端、负载电阻RL另一端和示波器接地端共地；所述方波信号发生电路为555定时器芯片及其外围电路。本实用新型采用基于555芯片的方波信号发生电路产生测试方波信号，测试方波信号经过被测二极管后的信号波形通过示波器显示读出即可得到二极管的反向恢复时间Trr，其电路结构简单，设计成本低，测试功能实现方便。
基本信息
专利标题 ：
二极管反向恢复时间测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021534955.2
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-07-29
授权号 ：
CN212749135U
授权日 ：
2021-03-19
发明人 ：
谢道平
申请人 ：
深圳市豪林电子有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市龙岗区南湾街道上李朗社区洲腾工业区7栋三楼
代理机构 ：
北京劲创知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
曹玉清
优先权 ：
CN202021534955.2
主分类号 ：
G01R31/26
IPC分类号 ：
G01R31/26
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2021-03-19 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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