一种用于中子散射的高压容器实验装置
授权
摘要

本实用新型公开了一种用于中子散射的高压容器实验装置,包括:筒体、密封单元、锁定单元、加热单元、中子吸收层以及四刀光阑,筒体的侧壁上设置有用于中子入射和散射的窗口,筒体内设置有放置样品管的腔体,密封单元用于将样品管密封在腔体内,锁定单元用于将样品管锁定在筒体内,中子吸收层设置在加热单元的外侧,四刀光阑设置在中子吸收层的侧面。本申请提供的上述方案,锁定装置上的设置可保证加载力的加载及维持恒定;窗口的设置保证了中子入射和散射的无阻碍通过,提高了中子透过率,加热单元的设置保证了样品达到所需要的高温环境,四刀光阑和中子吸收层的设置,分别减小了中子束斑和吸收杂散中子,降低了样品衍射谱本底。

基本信息
专利标题 :
一种用于中子散射的高压容器实验装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201922107059.1
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-11-29
授权号 :
CN211235607U
授权日 :
2020-08-11
发明人 :
袁宝胡海韬白波黄志强林权张绍英童欣
申请人 :
散裂中子源科学中心;中国科学院高能物理研究所
申请人地址 :
广东省东莞市松山湖科技产业园区科学园生产力大厦
代理机构 :
深圳鼎合诚知识产权代理有限公司
代理人 :
郭燕
优先权 :
CN201922107059.1
主分类号 :
G01N23/20033
IPC分类号 :
G01N23/20033  G01N23/20041  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/20
利用材料辐射的衍射,例如,用于测试晶体结构;利用材料辐射的散射,例如测试非晶材料;利用材料辐射的反射
G01N23/20008
分析仪零件结构,例如其特征在于X射线源、检测器或光学系统;其配件;样品制备
G01N23/20025
样品固定架或支架
G01N23/20033
具有温度控制或加热装置
法律状态
2020-08-11 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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