一种用于中子散射实验的样品盒及支架
授权
摘要

本实用新型提供一种用于中子散射实验的样品盒,包括夹持盒及容纳盒;所述夹持盒包括连接座及压板,所述连接座为上下贯通结构,其内壁设有第一限位台,所述连接座外侧壁设有安装部;所述压板为上下贯通结构,其内壁设有第二限位台;所述连接座和所述压板通过螺栓扣合在一起,形成整体的上下贯通结构;所述容纳盒置于所述第一限位台与所述第二限位台之间并被压紧;所述容纳盒包括扣合在一起的第一盒体及第二盒体,所述第一盒体与所述第二盒体均为石英材质制成,两者扣合后内部形成用于容纳样品的空腔。该样品盒结构简单,安装方便,适用性更好。本实用新型还提供了一种包括上述样品盒的用于中子散射实验的支架。

基本信息
专利标题 :
一种用于中子散射实验的样品盒及支架
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201922293516.0
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-12-18
授权号 :
CN211263246U
授权日 :
2020-08-14
发明人 :
林永明
申请人 :
北京英斯派科技有限公司
申请人地址 :
北京市石景山区古城大街特钢公司十一区(首特创业基地A座)一层119号
代理机构 :
北京智乾知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
华冰
优先权 :
CN201922293516.0
主分类号 :
G01N23/20008
IPC分类号 :
G01N23/20008  G01N23/20025  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/20
利用材料辐射的衍射,例如,用于测试晶体结构;利用材料辐射的散射,例如测试非晶材料;利用材料辐射的反射
G01N23/20008
分析仪零件结构,例如其特征在于X射线源、检测器或光学系统;其配件;样品制备
法律状态
2020-08-14 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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