一种用于中子散射的U型架
授权
摘要
本实用新型涉及中子散射技术领域,且公开了一种用于中子散射的U型架,包括固定杆和铝板,所述铝板的上下两侧和左右两侧均固定安装有固定板,所述固定杆的底部活动安装有连接杆,所述固定杆的顶部固定安装有数量为两个且分别位于固定杆顶部左右两侧的支撑杆,所述支撑杆的内部活动安装有固定结构。该用于中子散射的U型架,不仅操作简单,而且在固定时,通过与不同的螺纹孔进行连接,会有着不同的方向,包含有零度、四十五度和负四十五度的方向,而固定板包含有四块,故而也可以通过九十度转动固定板来旋转样品的方向,从而更便于使用者由不同的方向进行实验,适应能力更广,而且不需要使用新的铝架,从而更便于使用者使用。
基本信息
专利标题 :
一种用于中子散射的U型架
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021252935.6
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-06-30
授权号 :
CN212622329U
授权日 :
2021-02-26
发明人 :
胡彪言
申请人 :
胡彪言
申请人地址 :
上海市浦东新区金桥路899弄24号502室
代理机构 :
北京久维律师事务所
代理人 :
邢江峰
优先权 :
CN202021252935.6
主分类号 :
G01N23/20025
IPC分类号 :
G01N23/20025
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/20
利用材料辐射的衍射,例如,用于测试晶体结构;利用材料辐射的散射,例如测试非晶材料;利用材料辐射的反射
G01N23/20008
分析仪零件结构,例如其特征在于X射线源、检测器或光学系统;其配件;样品制备
G01N23/20025
样品固定架或支架
法律状态
2021-02-26 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载