一种小角中子散射谱仪的原位搅拌连续进样装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种用于小角中子散射谱仪的原位搅拌连续进样装置,该装置通过计算机控制的伺服电机带动焊接有比色皿池的带中子束入射孔的样品板定时定位移动以实现自动连续进样的目的;装有样品和磁力搅拌子的比色皿放置于比色皿池中,通过计算机控制磁力搅拌器以不同转速带动磁力搅拌子连续搅拌,以实现在自动连续进样的同时实现样品的连续搅拌。本实用新型提供的技术方案能够实现与小角中子散射易聚沉、沉降的胶体、粒子分散系样品的原位结构演化测试,且具有安装简易、容易拆卸、防止沉降、位移精确、自动化、节省人力等人优点,适用于小角中子散射研究中对于胶体、粒子分散系等易聚沉体系的微结构演化测试。
基本信息
专利标题 :
一种小角中子散射谱仪的原位搅拌连续进样装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921946185.X
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-11-12
授权号 :
CN211061446U
授权日 :
2020-07-21
发明人 :
黄粒朝刘栋杨敬浩税悦王亭亭陈良孙良卫孙光爱龚建
申请人 :
中国工程物理研究院核物理与化学研究所
申请人地址 :
四川省绵阳市919信箱218分箱
代理机构 :
中国工程物理研究院专利中心
代理人 :
翟长明
优先权 :
CN201921946185.X
主分类号 :
G01N23/202
IPC分类号 :
G01N23/202
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/20
利用材料辐射的衍射,例如,用于测试晶体结构;利用材料辐射的散射,例如测试非晶材料;利用材料辐射的反射
G01N23/201
测量小角散射,例如小角X射线散射
G01N23/202
利用中子
法律状态
2020-07-21 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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