一种模拟高温高压样品环境的中子散射装置
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摘要

本实用新型属于新兴的非常规油气实验技术领域,尤其涉及一种模拟高温高压样品环境的中子散射装置。一种模拟高温高压样品环境的中子散射装置,壳体、放样单元和加热单元,所述壳体为圆柱体结构,其水平设置,其中部设有沿其轴向贯穿其设置的入射通道,所述放样单元设置在所述入射通道内,其通过紧固件与所述壳体可拆卸连接,所述放样单元用于放置样品,所述加热单元设置在所述壳体内,其用于对所述放样单元进行加热,所述壳体上设有第一进气端和第一出气端。本实用新型所述的中子散射实验系统,其能实现在中子散射实验中模拟地层原位高温高压的样品环境,更使得使中子散射技术在超压、常压等原位气体压力条件下页岩气储层纳米孔隙结构表征上的应用成为可能。

基本信息
专利标题 :
一种模拟高温高压样品环境的中子散射装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020944031.3
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-05-28
授权号 :
CN212845119U
授权日 :
2021-03-30
发明人 :
赵翔孙梦迪张林浩赵家乐
申请人 :
中国地质大学(武汉);华研环科(北京)科技有限公司
申请人地址 :
湖北省武汉市洪山区鲁磨路388号
代理机构 :
武汉知产时代知识产权代理有限公司
代理人 :
郝明琴
优先权 :
CN202020944031.3
主分类号 :
G01N23/20
IPC分类号 :
G01N23/20  G01N23/20008  G01N23/202  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/20
利用材料辐射的衍射,例如,用于测试晶体结构;利用材料辐射的散射,例如测试非晶材料;利用材料辐射的反射
法律状态
2021-03-30 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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