本实用新型公开一种测试装置，包括探针模组和压紧组件，探针模组包括探针座及多个探针，探针座的上侧中部设有用于放置电子器件的收容槽，压紧组件包括底框、上盖及两压爪，底框用于与测试电路板相固定，探针模组位于底框中，底框的相对两侧分别设有两缺口以分别用于容纳两压爪，上盖设于底框上，并在上盖和底框之间设有弹性元件，每一压爪通过一拉轴与上盖连接及通过一支轴与底框连接，且拉轴位于支轴的外侧，上盖在弹性元件的弹性力作用下，使拉轴、支轴及压爪位于下压电子器件的第一位置，通过下压上盖预定距离，可以使拉轴、支轴及压爪联动至松开电子器件的的第二位置。本实用新型提高下压力，以便能更好的适用引脚数量较多的电子器件。