DDR测试设备

专利权人的姓名或者名称、地址的变更

摘要

本实用新型公开一种DDR测试设备，该DDR测试设备包括底座、设置在所述底座上的测试装置和位于所述底座一侧的屏幕支架，所述测试装置包括电源开关、手机主板和若干测试按钮，所述手机主板上设置有与其电连接的测试插座，所述手机主板还可与手机屏幕电连接，所述测试按钮与所述手机主板上的功能按键对应连接。本实用新型DDR测试设备的手机主板与手机屏幕独立设置，并在手机主板上设置有与其电连接的DDR测试插座，只需将DDR芯片放置到测试插座内即可，而无需在手机主板上焊接DDR芯片，如此可避免对手机主板造成损伤，从而降低对于DDR芯片的测试成本。

基本信息

专利标题：

DDR测试设备

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201922120611.0

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-11-29

授权号：

CN211826341U

授权日：

2020-10-30

发明人：

刘冲李振华杨元明

申请人：

深圳佰维存储科技股份有限公司

申请人地址：

广东省深圳市南山区桃源街道同富裕工业城4号厂房1楼、2楼、4楼、5楼

代理机构：

深圳市华勤知识产权代理事务所(普通合伙)

代理人：

隆毅

优先权：

CN201922120611.0

主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G01R31/28 H04M1/24

IPC结构图谱

G部——物理

G01

测量；测试

G01R

测量电变量；测量磁变量

G01R31/28

•电路的测试，例如用信号故障寻测器

法律状态

2022-06-07 ：

专利权人的姓名或者名称、地址的变更

IPC(主分类) : G01R 31/28
变更事项 : 专利权人
变更前 : 深圳佰维存储科技股份有限公司
变更后 : 深圳佰维存储科技股份有限公司
变更事项 : 地址
变更前 : 518000 广东省深圳市南山区桃源街道同富裕工业城4号厂房1楼、2楼、4楼、5楼
变更后 : 518000 广东省深圳市南山区桃源街道平山社区留仙大道1213号众冠红花岭工业南区2区4、8栋1层-3层及4栋4层

2020-10-30 ：

授权

注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。

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