集成化测试片组
授权
摘要
本实用新型公开了一种集成化测试片组，包括两个镜像设置的测试片组，测试片组包括固定块和六个测试片，测试片包括接线部和检测部，接线部和检测部分别位于固定块的两侧，每两个测试片的检测部组成一个测试块，六个测试片依次设置在固定块上；六个测试片关于固定块的竖向中心轴线镜像对称；该集成化测试片组中，通过对两个测试片组进行正反面切换，以及位置互换，能够提高整个测试片组的使用寿命，大大提高了测试片组的实用价值。本实用新型设计合理，适合推广使用。
基本信息
专利标题 ：
集成化测试片组
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922198444.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-12-10
授权号 ：
CN211653060U
授权日 ：
2020-10-09
发明人 ：
张正贵杨吉明匡华强范宇戴亮马宇腾徐海军卞敏龙薛鸿芮聪
申请人 ：
江苏海德半导体有限公司
申请人地址 ：
江苏省无锡市江阴市临港街道东徐路3号
代理机构 ：
北京轻创知识产权代理有限公司
代理人 ：
陈晓华
优先权 ：
CN201922198444.1
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2020-10-09 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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